老化测试包括将元件暴露在高温和高电压下。通过这种半导体生产测试，工程师、制造商和其他相关专业人员能够大大减少发现缺陷所需的时间。老化测试应如何融入整体质量控制计划？以下是企业人员在实施这一流程时应该了解的内容。
人们可以进行两种老化测试。了解每种方法的工作原理，就能更容易地知道哪种测试最适合公司的需求或个人产品的工作流程。
静态测试是这两种测试中最简单、价格最合理的一种。它包括将元件放置在达到所需温度的测试室中，同时给设备施加适当的电压。虽然这是一个简单的测试，但其有一个缺点是并非所有节点都会在测试期间激活，因此测试结果不如预期的那么全面。
静态测试不涉及施加输入信号。但是，动态老化测试会在测试板加热到合适温度的同时向每个元件发送信号。通过监控动态测试的输出，质量控制专业人员可以准确地知道哪些元件最容易出现故障。然后，他们就可以进一步调查这些问题，从而减少故障。
当被问及老化测试需要多长时间时，负责监督半导体生产测试的人员给出了各种答案。一些人建议估计人们使用包含这些组件的设备的时间和频率，并根据大致的指标来确定测试时间。其他人有更直接但可能过于宽泛的建议，例如认为只有运行至少一天的老化测试才有用。
有一家工厂提供了一次参观机会，展示其如何对内存条进行老化测试。所有内存8GB及以下的内存条都会进行60分钟的老化测试，而容量更大的内存棒则要多进行半小时的老化测试。
老化测试的一个缺点是，根据所选类型的不同，它们可能会耗费大量时间和人力。然而，由于工厂有专门的设备，这些问题都不那么棘手。个房间里就有200多个装有老化测试组件的试验台。此外，还有一个颜色编码系统，一旦内存条合格，绿灯就会显示，红灯则表示有问题需要进一步调查。
该公司生产的所有内存条都要经过这些老化测试。如果该品牌想向现有或潜在客户证明可靠性和一致性，这可能是一个出色的系统。
老化测试将半导体置于达到或超过其额定工作条件的温度和电压水平下。这使得工作人员能够在产品离开制造工厂之前识别并解决特定的质量控制问题。一些老化测试会检查其他因素，例如组件使用时间。只要工作条件有规定的上限，人们就可以进行老化测试，以确保其产品满足或超过规格要求。
人们可以通过查看被称为“浴缸曲线”的U形线来分析老化测试结果，这些线的两端大部分都是平直的线。扁平部分之前的左侧部分表示产品因制造缺陷而过早失效。右侧弯曲部分显示了组件可能因正常使用而磨损的时间跨度。
这种半导体生产测试很重要，但并非包罗万象。所有计划或监督质量控制活动的人员都必须了解老化测试能做什么，不能做什么。
老化测试可以识别不能承受预期温度和电压水平的组件。他们这样做不会缩短按预期运行的零件的使用寿命。然而，此类测试仍会使组件受到静电放电和整个受测设备应力分布不均的影响。
参与测试的人员应在进行老化测试后安排额外的措施，以验证产品是否符合最低标准。例如，人们可能需要选择执行三种主要类型的振动测试中的一个，以确定产品是否能承受预期的环境和条件。此类测试会使组件承受均匀或随机的脉冲。了解预期使用环境的各个方面(例如温度和湿度水平)，测试人员可以在实验室中模仿它们以获得更相关的结果。这些测试可以识别半导体中潜在的破损和缺陷。
测试可以揭示制造商在半导体生产中必须解决的明显缺陷。例如，如果开始出现故障的元件数量超过平均水平，专业人员应该更深入地查找原因。如果问题突然出现，情况尤其如此。这批半导体是否使用了不同的供应商？质量控制团队的一些新员工是否应该接受更多培训？
管理者在评估哪些方面需要立即关注时，还应探讨哪些其他策略可作为老化测试的最佳补充。许多电子制造商都购买了X射线机。有些机型每次可扫描多层，从而最大限度地提高效率和可见性。
要记住的主要一点是，老化测试可以指出问题，但人们必须找出原因。通常的做法是派人检查所有故障组件。他们可以确定导致不良结果的原因以及是否有相对快速的解决方案。
例如，拆焊和重新焊接能否解决导致故障的原因？如果没有，技术人员能否挽救功能组件？质量控制负责人应认真考虑详细记录问题发生的频率、原因以及其他有价值的见解。
将这些信息输入数据分析平台可以节省时间，并帮助管理者和其他人了解事情是否朝着正确的方向发展。通过选择和跟踪指标来表现出对持续改进的决心，将鼓励每个人保持责任感，并努力实现具有挑战性但可实现的目标。
无论是首次运行老化测试，还是解决既定流程中的流程缺陷，公司都应遵循这些策略。此外，定期从所有相关方获取反馈也是明智之举，以了解哪些方面效果很好，哪些方面最具挑战性或最麻烦。这将确保系统的顺畅运行并提供始终如一的高质量产品。
(原文刊登于EDN姊妹网站Power Electronics News，参考链接：Crafting a Comprehensive Quality Control Plan With Burn-In Tests，由Ricardo Xie编译。)
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