日前,技嘉GP-P850GM和GP-P750GM电源(PSU)被TechPowerUp和Gamers Nexus(GN)等硬件评测网站发现在重载压力测试中会爆炸,而这些电源型号经常会与高端显卡捆绑在一起在电商上销售,这些显卡一般来说功耗较高的,也就是说对于这些用户而言爆炸的机会要高出许多。
技嘉当时对其电源存在重大问题的说法进行了反驳,并将责任归咎于用户和测试人员,然而,技嘉的说法又被 Steve 在 GamersNexus 驳回,因为其中一款PSU 在 15 分钟内又发生了爆炸。换而言之,技嘉 GP-750GM PSU 即使在应用过功率保护调整后仍会爆炸。
随后技嘉公司发布了一份非常详细的声明,暗示该公司已经应用了新的 OVP 和 OPP 调整,以防止他们的新电源在 PC 中运行时发生爆炸。
技嘉表示,电源在第三方审查期间必须承受的重负荷测试,这种"延长测试的水平可能会严重降低GP-P850GM和GP-P750GM的产品和组件的寿命"。因此,技嘉现在已经将这两款PSU的过功率保护(OPP)触发值降低到110% ~ 120%,而之前它们被设定为120% ~ 150%。为了解决第三方提出的这些潜在问题,特别是在他们通过直流电子负载设备进行测试时发现的那些长时间重复接近120%至150%的OPP触发点。技嘉已作出调整,将GP-P850GM和GP-P750GM的OPP降低到以下数值。
声明如下:
- 对于台式 PC 系统,有时可能会出现峰值功率超出预期使用范围的情况。在这种情况下,GIGABYTE GP-P850GM / GP-P750GM 型号电源包括行业标准的内置安全功能“过功率保护”(OPP)。OPP 安全功能旨在在功率负载超过设备设计运行的瓦数时关闭设备。OPP 设置为 120% 至 150%,GP-P850GM 为 1020W~1300W,GP-P750GM 为 900W~1125W
- 技嘉感谢并考虑来自我们媒体合作伙伴和 PC 硬件专业人士的任何反馈和建议。当通过直流电子负载设备进行长时间重复接近 120% 至 150% OPP 触发点的测试时,我们了解到第三方担心 GP-P850GM 和 GP-P750GM 在高瓦数下跳闸的潜在问题。这种级别的扩展测试可能会严重缩短 GP-P850GM 和 GP-P750GM 产品和组件的使用寿命。
- 为了解决第三方提出的这些潜在问题,特别是在通过直流电子负载设备进行测试期间发现的问题,这些问题在长时间重复接近 120% 至 150% OPP 触发点的情况下进行。GIGABYTE 已对 GP-P850GM 和 GP-P750GM 的 OPP 进行调整并将其降低到以下值。
- GP-P850GM- 调整 OPP 触发点范围从 120% ~ 150% 到 110% ~ 120%
之前:1020W ~ 1300W
之后:950W ~ 1050W
- GP-P750GM- 调整 OPP 触发点范围从 120% ~ 150% 到 110% ~ 120%
之前:900W ~ 1125W
之后:825W ~ 925W
- 技嘉高度重视所有客户对我们产品质量和售后服务的信心和信任。技嘉想强调所报告的潜在问题,似乎只是在通过 DC 电子负载设备进行了很长时间的极端负载测试后才会发生,并且不会是任何实际使用的典型问题。
- GIGABYTE GP-P850GM 和 GP-P750GM 电源包含行业标准电源保护设计 OCP、OTP、OVP、OPP、UVP 和 SCP。各国安全认证,确保您的系统安全稳定运行。
- 为了让客户完全放心,附录 1 中未列出的任何序列号都是第 3 点中列出的修改后的 OPP 设置。在GP-P850GM或GP-P750GM产品 包含 在附件1中所列的序列号范围内可以申请 * GP-P850GM和GP-P750GM退换服务。
技嘉表示,主要问题在于测试人员在接近 120-150% 触发点的情况下使用 DC 电子负载设备长时间测试 PSU,这可能导致其产品的使用寿命缩短。直流电子负载设备像传统 PC 一样从 PSU 供电,但不同之处在于它以固定值进行供电,而另一方面,PC 以可变值(电压、功率输入等)吸收功率。这是衡量 PSU 质量和安全特性的一种更精细的方法。同时,它有助于展示 PSU 上的 OVP 和 OPP 功能,就 Gigabyte 的 GP GM 系列而言,这些功能正在启动,但也会导致不必要的和有害的爆炸。
该公司还表示,这些测试的持续时间过长会导致故障(例如 GP GM Gigabyte PSU 爆炸),但 GamersNexus 的工作人员仅用了 15 分钟(或更短时间)就让 PSU 在正常测试下爆炸环境。当 OVP/OPP 保护启动时,PSU 似乎跳闸了,但它没有完全关闭 PSU,而是将导致爆炸的组件短路。IT 和技术人员帕特里克·斯通说,他的硬件专家朋友认为问题不小,实际上是与 MOSFET 控制器上的时序有关的设计缺陷。
责编:Demi Xia