在达芬奇高速测试插座后，史密斯英特康希冀继续领先老化测试插座市场

现代电子产品都需要一个必不可少的组件—半导体，被视为现代电子产品的大脑。半导体的可靠性直接影响了终端产品为用户提供的使用体验。为了保证半导体的可靠性，制造商必须通过严格的半导体测试来检测和消除可能存在的缺陷和故障。yLkednc

老化测试是一种关键的可靠性测试方法，旨在检测组件的早期故障并减少使用时出现缺陷和故障的可能性。大多数半导体器件都存在早期失效或失效的风险，老化测试可用于确定元件在这一关键早期阶段的可靠性，通过工作环境和电气性能两方面对元器件进行严苛的试验,加快元器件在其寿命前10%部分的工作，而使缺陷在短期内出现, 尽使故障早期发现。yLkednc

经过老化测试的集成电路 (IC) 在其工作寿命内的故障率远低于未测试的 IC。因此，采用老化测试是半导体芯片生产环节中关键的环节。yLkednc

作为先进半导体测试插座制造商，H型弹簧探针提供了一种新的更具成本优势更短交货期的电气连接方案。yLkednc

 Plastronics 在老化测试行业已有 50 多年的历史，在同行业内拥有最多的QFN 产品测试插座，与客户和合作伙伴建立了牢固的关系， Plastronics的批量专业制造技术和克服行业所面临的测试技术挑战的能力为史密斯英特康在半导体测试行业的发展具有重要意义。yLkednc

与传统的插座解决方案相比，史密斯英特康的老化插座解决方案具有多项优势，包括：

• 更多的引脚数： 我们的老化测试插座可容纳更多的引脚数，因此适用于高性能电子设备。
• 更多的设计灵活性： 我们为客户提供更多的设计灵活性，允许其对插座设计进行定制和优化，以满足特定的应用要求。
• 生产时间更短： 插座通过自动化装配生产，缩短了制造时间，降低了成本。
• 电气性能更高： 史密斯英特康提供的插座解决方案具有更高的电气性能、更好的信号完整性、更低的串扰和更好的阻抗控制。H型弹簧探针由可承受高温，由不锈钢螺旋弹簧和 铍铜制成，比其他触针更耐用，使用寿命更长。H型弹簧探针为所有引脚提供了更恒定、更一致的接触力，确保信号均匀传输，不会丢失或失真。这将带来更好的信号完整性、更高的数据传输速率和更低的噪音。

消费者为他们的电子设备支付高价，他们最不希望看到的是产品在购买后出现故障。进行老化测试就是以复制实际的现场压力环境，模拟各种情况，进而降低故障率。通过这个消除过程，制造商可以最大限度地减少他们运送给客户的有缺陷半导体的数量。这种方法增加了电子设备达到消费者预期的可靠性水平的可能性。yLkednc

史密斯英特康的专利技术立足于解决与高频率、大电流、低电阻和足够接触行程相关的行业难题。此外，我们独特的自动化生产流程可确保客户在任何新项目或现有产品改型中获得最快的交付周期。 yLkednc

产品老化测试是生产测试流程中必不可少的步骤，继史密斯英特康在高速测试插座创造成功经验，史密斯英特康也希冀在老化测试方面为客户提供最佳的解决方案。无论我们的客户面临的挑战是成本、研发能力、交货时间还是质量，史密斯英特康拥有专业技术和制造能力来帮助客户解决在老化测试和IC测试方面的难题。这也是史密斯英特康引以为豪的价值所在。yLkednc

更多产品信息，欢迎访问史密斯英特康官网 www.smithsinterconnect.com。yLkednc

责编：Johnson ZhangyLkednc