泰克科技公司日前宣布，推出最新双脉冲测试解决方案 (WBG-DPT解决方案)。

在本文中，我们将介绍一个基于形式验证的、易于调动的 RISC-V 处理器验证程序。

检验功率半导体器件中的各种噪声源，例如热噪声和散粒噪声。

在本教程中，我们将分析PN结中的耗尽层和结的过渡电容。

数字电路和接口在越来越高的时钟频率下的表现非常类似于模拟电路。所以，为了确保新设计方案和重新设计的方案中接口的质量，必须引入新的测量方法和测量设备。

据外媒报道，先进锂离子电池技术公司Prieto Battery推出其获得专利的3D叉指式电池的最新原型，具有多项突破性性能，不但可以在3分钟内将电池充满，还可以在极低（-30℃）和极高（+100℃）的温度下运行和充电，同时这款锂离子电池的所有三项属性均经过了第三方认可的电池测试实验室的测试和验证，且不易燃。

数字或逻辑不确定性，也称为“不确定区”或“过渡区”，是当数字信号处于一个电压范围时发生的一种现象，在该电压范围内信号值可能被模糊地解释为逻辑值0或1。如果一个电路的输入处于不确定区，它的输出将是不可预测的。换句话说，输出是不确定的，因为系统无法决定要传输的信息的正确数字状态。

验证处理器的安全性，已成为现代电子系统设计中必不可少的一步。用户希望确保他们的消费类设备不会被黑客入侵，并且他们的个人和财务数据在云端是安全的。有效的安全验证涉及处理器硬件和运行在其上的多层软件。本文讨论了一些与硬件安全验证相关的挑战，并提出了一种基于形式的方法来提供解决方案。实现RISC-V流行指令集架构(ISA)的设计示例，展示了这种方法的强大功能。

在本教程中，我们将使用仅由一个二极管组成的电路来分析其对不同输入波形的响应、微分电阻和反向饱和电流。

东芝今日宣布，推出采用S-VSON4T封装的光继电器——“TLP3476S”，其导通时间与东芝当前产品TLP3475S相比缩短了一半。

近日，在美国举行的 2023 年 SID Display Week 活动中，三星展示了一款全新的屏幕面板名为Sensor OLED，是全球首款内置指纹传感器和心率传感器的OLED面板。

本文对.STEP指令及其在多次仿真中的使用进行了深入分析。

本文介绍了一种小型专用电池分析仪设计，借此就可将我们对便携式电子设备中所用小型电池的“一厢情愿”从其“实际性能”中区分开来。

人工智能可以使芯片设计更快、更准确且更具成本效益，同时缓解日益严重的技术人才短缺问题。

尽管MCU片上模拟外设的种类和数量在不断提高并且其成本也在不断下降，但很多工程师仍然喜欢采用PWM DAC这种简单设计，因为它可以获得“免费”的DAC。但是，这一数据转换信号链的反方向该怎么办呢？