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测试与测量
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测试与测量
泰克参加【第四届半导体青年学术会议】,助力半导体与集成电路行业技术发展和革新
在【第四届半导体青年学术会议】期间,泰克将集中展示最新测试方案,为神经形态器件与脑类计算、低维半导体材料测试、半导体量子器件测试等前沿研究提供全面领先解决方案。
泰克
2023-05-06
测试与测量
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新材料
测试与测量
全新测量、控制、试验管理平台软件——imc STUDIO 2023
用户界面更易用,工作流程更高效
imc
2023-05-06
测试与测量
新品
测试与测量
分析高压SiC MOSFET的鲁棒性和可靠性
在将SiC MOSFET安装到关键任务应用之前,应对其可靠性和鲁棒性进行评估。本文围绕1200V DMOSFET技术的可靠性和鲁棒性展开,以便更好地理解系统设计的权衡,以提高效率和可靠性。
Saumitra Jagdale
2023-04-28
功率器件
安全与可靠性
测试与测量
功率器件
VIAVI为SASE解决方案带来高级性能测试
VIAVI Solutions宣布将向安全访问服务边缘(SASE)网络提供高级性能测试。TeraVM SASE测试解决方案是一个虚拟化平台,其通过多矢量模拟大规模流量并测量性能,测试任何SASE解决方案的极限性能。
VIAVI
2023-04-27
测试与测量
网络/协议
通信
测试与测量
GRAS推出全新¼"、多场景、高灵敏度麦克风-46BC
适用任何声场、超低底噪24dB(A)、高灵敏度
Axiometrix Solutions
2023-04-27
测试与测量
放大/调整/转换
模拟/混合信号/RF
测试与测量
新技术将无线充电提升到新水平
Eggtronic的技术解决了传统无线充电中出现的效率挑战。
Igor Spinella
2023-04-27
无线技术
安全与可靠性
测试与测量
无线技术
类脑智能的本质可能是物理的?纳米线网络能像人脑一样学习和记忆
近日,由悉尼大学Alon Loeffler博士领导的国际团队证明,纳米线网络(Nanowire network)可以像人脑一样表现出短期和长期记忆,相关研究成果已发表在《Science Advances》(科学进展)杂志。
综合报道
2023-04-26
人工智能
安全与可靠性
测试与测量
人工智能
用于400V/800V EV架构的差分功率处理OBC
本文提出了一种基于串联DAB的OBC,它使用并行功率处理来提供基于标准Si 650V MOSFET晶体管的高性能和低成本解决方案。
Stefano Lovati
2023-04-26
汽车电子
嵌入式系统
安全与可靠性
汽车电子
用于电路分析和设计的Spice仿真指南-第3部分:时间常数的进一步研究
本文对Spice仿真中时间常数的使用进行了深入分析。还讨论了可视化输出数据的方法。
Giovanni Di Maria
2023-04-25
模拟/混合信号/RF
安全与可靠性
测试与测量
模拟/混合信号/RF
先进制程SoC模拟IP集成挑战 自动化工具必不可少
越来越多具备异质电压域的系统级芯片(SoC)设计从定制模拟IP转向自动化实现,因此设计工程师不必再担心手动模拟定制导致的进度落后。
Majeed Ahmad,EDN主编
2023-04-25
EDA/IP/IC设计
嵌入式系统
测试与测量
EDA/IP/IC设计
PCIe失效分析利器,一学就会成为故障定位专家
在服务器、PC等电子设备主板的生产中,往往会出现产线的故障,需要失效分析工程师(FA)以及维修工程师(RMA)去快速定位生产过程当中的故障件,特别是一些高速信号的故障。在整个过程中,往往需要面临很多的压力和责任。
泰克科技
2023-04-24
测试与测量
接口/总线
数据中心
测试与测量
采用台积电3nm工艺,Marvell推出全球首款3nm芯片
近日,美国芯片公司Marvell,终于正式发布了全球第一颗3nm芯片,基于台积电3nm工艺打造的数据中心芯片。
综合报道
2023-04-24
处理器/DSP
数据中心
测试与测量
处理器/DSP
固态电池在电动汽车中的作用是什么?
该技术使电动汽车行业能够实现其脱碳目标。
Abhishek Jadhav
2023-04-23
电源管理
电池技术
安全与可靠性
电源管理
单张英伟达RTX 3090显卡即可运行,复旦MOSS大模型正式开源
4月21日,复旦大学自然语言处理实验室开发的新版MOSS模型正式上线,成为国内首个插件增强的开源对话语言模型。目前,MOSS模型已上线开源,相关代码、数据、模型参数在Github和Hugging Face等平台开放,供科研人员下载。
综合报道
2023-04-23
人工智能
嵌入式系统
安全与可靠性
人工智能
用于电路分析和设计的SPICE仿真指南-第1部分:简介和网表
在本课程中,您将学习如何使用SPICE语言创建电路模型并仿真其性能。
Giovanni Di Maria
2023-04-21
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