本设计实例讨论了生成非标准阻值的一些电路，包括πΩ电阻和1/(2π)倍数的电阻。未来还会有eΩ电阻、普朗克常数电阻和阿伏加德罗常数电阻。

在许多应用中重量和物理尺寸非常重要，如果元件的实际功耗很小，可能会导致设计的安全系数过高，从而使线路板的设计采用与实际不符或过于保守的元件功耗值作为根据进行热分析。

在储能产品百花齐放的今天，具有超大功率、超大电流、超宽工作范围、超高安全性、超长寿命等储能特点的超级电容（法拉级电容）单独使用，以及与其他储能产品的复合使用成为主流。对于使用者而言，选择适合的超级电容至关重要。

过去几年来出现的随机约束事务生成、功能覆盖率和 UVM等技术已大幅提升了验证质量和生产率，但在子系统和SoC级上所面临的验证挑战却在不断攀升，因此需要一种新的方法。便携式激励自动化测试方法便应运而生。

使用现代数字示波器中的时域、频域和统计域工具可以量化噪声和抖动等随机过程，并通过相关的测量参数进行增强。参数数学公式可以推导出派生参数，如方差和峰值因数。

如果不需要快速切换功能，就不需要设置快速且功能强大的FET驱动器。在实际应用中，不可将电阻驱动器当作功率FET。

即使是在实验室的设置环境下，测试和评估电池内部状态和结构的挑战也极其艰巨；但是，在新的技术方案加持下，将有机会克服种种障碍。

如果从测试的类型上来看，从实验室到产线测试，一个电控模块会包含表征测试、系统验证测试、软硬件在环测试、路测和产线下线测试这样几个不同阶段。

虽然市场上有高度整合、数字接口的RGB传感器，但它们都无法实现自动曝光功能，因此可能要求多次曝光和μC干预才能实现这样的功能。本文将试着说明该如何设计电路，以实现自动曝光功能。

尽管替换FET、并检查所有组件，但我没把机器修好。于是，为了更好地了解电路，我逆向设计了PCB，并画出了这个原理图。

众所周知，电子系统芯片中的晶体管会随着时间而逐渐老化。它们会慢慢变旧，反应变得迟缓，毛病越来越多，甚至突然崩溃死机。不过凡事都有两面性，虽然晶体管老化对电子产品不是好事，但其功耗却随着时间的推移而降低。

果冻效应要如何解决呢？便是不要逐点逐线去记录数据，但这会影响到CMOS在高速、高效、低功耗上的表现，不过随着近年处理器和内存的技术提升，两者兼备不再是做不到的事情，因此便有了全局快门（Global Shutter）的诞生。

锐角走线一般布线时我们禁止出现，直角走线一般是PCB布线中要求尽量避免的情况，也几乎成为衡量布线好坏的标准之一，那么直角走线究竟会对信号传输产生多大的影响呢？

利用一个数字万用表提供多个固定量程常常令人沮丧。本文介绍了一种简单而有用的设计实例，仅使用3-4个器件，就可监控单一量程内从数μA到超过100mA的电流。

能够在大动态范围内产生RGB三原色这一特性对于机器视觉应用来说非常有用，本设计实例介绍的RGB传感器通过自动曝光控制达到这个目的。